Please use this identifier to cite or link to this item: http://kurumsalarsiv.tenmak.gov.tr/20.500.12878/1780
Title: Total fractional escape from semiconductor detectors
Authors: Şaplakoğlu, A.
Özoğlu, İ.
Şimşirel, H. A.
Can, C.
AEK-Ankara Nükleer Araştırma ve Eğitim Merkezi
Keywords: Total fractional escape
Toplam fraksiyonel kaçış
Semiconductor detectors
Yarı iletken dedektörler
Issue Date: Jun-1977
Publisher: Turkish Atomic Energy Commission, Ankara Nuclear Research and Traning Center
Citation: Şaplakoğlu, A. ... [ve arkadaşları]. (1977). Total fractional escape from semiconductor detectors. Technical Journal, 4(2), 52-59.
Abstract: Ge(Li) ve Si(LI) detektörlerinde 2-100 keV enerji bölgesinde sayaca ait K X-ışınlarının toplam kaçma oranı yeni bir yaklaşımla hesaplanmıştır. Alttan kaçma oranı hesaplanmış ve bunun toplam kaçma oranına olan hissesi tespit edilmiştir. Elde edilen toplam kaçma eğrileri, üstten kaçma ile karşılaştırılmış ve İki eğri arasındaki ayrılmaların Ge(Li) için 60 keV ve Si(Li) için 15 keV den başlayarak yüksek enerjilere doğru arttığı gösterilmiştir.
A new approach is investigated for total fractional escape of K X-rays of semiconductor Ge(Li) and Si (Li) detectors in the energy range from 2 to 100 keV. The fractional rear escape is formulated. The contribution of rear escape to the total escape is seen to begin after 60 keV for Ge(Li) and 15 keV for Si (Li).
URI: http://kurumsalarsiv.tenmak.gov.tr/20.500.12878/1780
Appears in Collections:Cilt 4 - Sayı: 2 (1977)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
tj_1977_v4_s2_3.pdfYayıncı Sürümü2.77 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.