Mutlu, HalukKalaycı, Yakup2017-02-012017-02-012005Kalaycı, Y. (2005), Enerji dağınımlı x-ışını floresans (EDXRF) ile bileşiklerdeki kimyasal kaymanın incelenmesi. (Yayımlanmamış doktora tezi). Ankara : Ankara Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü.http://kurumsalarsiv.tenmak.gov.tr/handle/20.500.12878/259Bu çalışmada enerji dağınımlı X-ışını floresansı (EDXRF) yardımıyla Ni-Si ikili sisteminde alaşım etkisinin nikelin K-kabuğu floresans veriminde, Kp/Ka şiddet oranında ve tesir kesitinde oluşturduğu etkiler incelenmiştir. Sonuçlar, bazı Ni-Si alaşımları için mevcut elektronik yapı hesaplamalarından elde edilen sonuçlar, Ni’nin 3d-elektronik şekillenimi cinsinden tartışılmıştır.In this work, influence of alloying effect on nickel K-shell fluorescence yield, Kp/Ka intensity ratio and cross-section are investigated in Ni-Si binary system by means of energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF). The results were discussed in terms of the 3d-electronic configuration of Ni obtained from electronic structure calculations for some Ni-Si alloys.turinfo:eu-repo/semantics/openAccessAlloying effectAlaşım etkisiNi-Si alloysNi-Si alaşımlarıX-ray fluorescence yieldX-ışını floresansı verimiIntensity ratioŞiddet oranıCross-sectionTesir kesitidoctoralThesis