Ellialtıoğlu, M. R.Sencer, O.Büget, Uğur2021-09-022021-09-021974-06Ellialtıoğlu, M. R., Sencer, O. ve Büget, U. (1974). C-V characteristics of mosom structures. Technical Journal, 1(3), 121-124.http://kurumsalarsiv.tenmak.gov.tr/handle/20.500.12878/1735Bir silisyum kristalinin iki yüzeyi üzerinde karşılıklı iki MOS kapasitesi inşa edilerek bir MOSOM yapısı elde edildi. Yapının C -V karakteristiği ölçüldü ve kompüter programı ile elde edilen teorik eğriyle karşılaştırıldı.Two MOS capacitors were built on the opposite surfaces of a silicon chip to produce an MOSOM structure. The C -V characteristic of the MOSOM was measured and compared with the theoretical curve obtained by a computer programme.enginfo:eu-repo/semantics/openAccessMosom structuresMosom yapılarıC-V characteristicsC-V özellikleriarticle11211243